锆-铪含量的测定-原子发射光谱法
1 范围 本方法适用于锆中铪含量的测定。 本方法适用于锆中质量分数为0.005%—5%的铪含量的测定。 2 原理 碳粉缓冲法,为了降低电弧温度更适合Hf的激发,在碳粉中加入6%的NaF。 3 试剂 3.1 硝酸,1+1,优级纯 3.2 碳粉,光谱纯 3.3 氢氟酸,ρ约1.13g/mL,优级纯 3.4 氟化钠,优级纯 4 仪器 4.1 PGS-2平面光栅摄谱仪 4.2 硅整流器 4.3 映谱仪 4.4 测微光度计 5 分析步骤 5.1 试样清洗 取约1.0g试样置于30mL铂坩埚中,加入10mL硝酸(1+1)清洗表面,弃去清洗用的硝酸。 5.2试样溶解 在上述铂坩埚中加入5mL硝酸(1+1),5~10滴氢氟酸,低温加热溶解,待大部分试样溶解后,提高温度使试样溶解完全,加热蒸干后,置于马弗炉中850℃灼烧成氧化物。 5.3装电极 将处理成氧化物的试样与6%的NaF的碳粉缓冲剂2:1混合并磨匀,装入Φ3mm×2mm的石墨电极中; 5.3 射谱 在PGS-2平面光栅摄谱仪上摄谱,中间波段290.0nm,三透镜照明,中间光栅3.2mm,入射狭缝12μ;用9×24cm紫外板、直流电弧阳极激发,用15A曝光40s。 5.5 暗室处理 摄谱结束后按标准化暗室处理方法,将感光板进行显影和定影; 5.6 测量 利用光谱投影仪和测微光度计测量分析线对的黑度值;
于工作曲线上查出铪的含量。 5.7 工作曲线的绘制 按1:2的比例将6%的NaF的碳粉缓冲剂与氧化锆标准样品混匀,并装入Φ3mm×2mm的石墨电极中,与试料同样条件进行射谱、暗室处理及测量,以LogC为横坐标,以△S为纵坐标绘制工作曲线。 6 结果计算 自工作曲线上查出氧化锆中铪的含量,换算成锆中铪的含量,以质量分数表示。 7 允许差 同一实验室两次测量结果的相对标准偏差:RSD<10%。 8 参考文献 [1] 王长华,钱伯仁等.《分析测试新技术新方法研究报告汇编》2002年 |